Estimate of tungsten thin films thermal conductivity from electrical measurements using Wiedemann-Franz Law
Abstract
Tungsten thin films were grown on glass substrates by RF sputtering using argon pressures from 5 to 35 mTorr. The electrical properties for all samples were measured using a Hall system, the values obtained for carrier concentration are around 1022 holes/cm3. Changes in the electrical conductivity were correlated with the transport mechanism of the sputtered W in the background Ar gas. With the measured electrical conductivity was possible to calculate the thermal conductivity using the Wiedemann-Franz law. The calculated thermal conductivities were in a good agreement with previous experimental reports in the literature, suggesting that W thin films grown in low argon pressures have potential applications as metallic thin films in multilayers absorber of solar collectors.
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